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失效分析，掃描電子顯微鏡的特點有哪些？

人類智慧促使著科技不斷發(fā)展，從而開始了我們對于現(xiàn)存空間的無限探索。大到宇宙蒼穹，小到微觀世界，我們沉醉于浩瀚星河的磅礴壯闊，也癡迷于微觀材料世界的奇妙引力。

沒有什么能阻擋我們探秘的步伐，今天，我們就借用掃描電子顯微鏡來走進材料的微觀領域，感受科學技術的力量！

我們首先一起來簡單了解一下，什么是掃描電子顯微鏡？它是憑借什么優(yōu)勢來帶領我們探秘微觀世界的！

掃描電鏡（Scanning Electron Microscope ,簡稱SEM)利用電子束打在樣品表面逐點掃描，與樣品作用產(chǎn)生各種信號，這些信號經(jīng)檢測器接收、放大并轉換成調(diào)制信號，最后在顯示屏上反映樣品表面各種特征的像，且有強烈的立體感。

掃描電子顯微鏡的原理①

掃描電子顯微鏡是一個復雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現(xiàn)代計算機控制技術。

結構: SEM 主要包括電子光學系統(tǒng)、電子系統(tǒng)、顯示部件和真空系統(tǒng)組成。

電子光學系統(tǒng)：主要包括電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室。

電子系統(tǒng)：主要包括電源系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)。電源系統(tǒng)主要是指各種部件的電源，如加速電壓電源、透鏡電源和光電倍增管電源等。檢測系統(tǒng)主要由探測器、信號放大器和電信號處理器組成。

顯示部件：主要是顯像管，將經(jīng)處理后的信號通過顯像管轉換成圖像顯示。

真空系統(tǒng)：真空系統(tǒng)為電子光學系統(tǒng)提供必需的高真空，保證了電子束的正常掃描，還可以防止樣品受到污染。

掃描電子顯微鏡的特點

1. 有較高的放大倍數(shù)，20倍-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；

2. 有很大的景深，視野大，圖像的分辨率高，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構，還能獲得與形貌相對應的多方面的信息；

3. 對于導電材料，可直接放入樣品室進行分析，對于導電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導電層；

4. 制樣簡單，能夠直接觀察大尺寸試樣的原始表面，同時輻照對樣品表面的污染小；

5. 在不犧牲掃描電子顯微鏡特性的情況下擴充附加功能，如與EDS聯(lián)用，可對材料的成分進行分析。

在我們對SEM有了一個稍細致的了解之后，接下來就著重進入其在微觀材料領域的應用，看看能為我們呈現(xiàn)哪些極富價值的景觀！

檢測實驗室對于掃描電子顯微鏡技術應用于材料及零部件檢測方面有著豐富的經(jīng)驗：

對于金屬材料的分析方面，涉及金屬材料斷裂失效分析、金屬材料的表面缺陷分析、金屬材料的微區(qū)化學成分分析等；

對于非金屬材料而言，涉及材料納米級尺寸檢測、材料的表面形貌觀察與測量、涂鍍層表面形貌分析與鍍層厚度測量、材料的微區(qū)化學成分分析等。