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如今的生產和科研，為了確保生產效率和研發質量，常常會使用掃描電鏡來觀測物體表面形態，進而了解其結構特征，保障樣品能夠達標，那么，我們知道，顯微鏡有觀測的作用，在眾多種類之中為何選擇掃描電鏡SEM呢？什么是掃描電鏡SEM？
掃描電鏡與光學顯微鏡主要的區別
1.照明源。掃描電鏡使用的照明源是通過電子槍發射的電子流，而光學顯微鏡的照明源一般是可見光。
2.透鏡。電鏡所起到放大作用的物鏡是電磁透鏡，能夠在中央部分產生磁場的環形電磁線圈，而光學顯微鏡則是使用的玻璃磨制的光學透鏡。
3.成像原理。電鏡從原理上講利用聚焦得非常細的高能電子束在試樣上掃描,激發出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像,獲得測試試樣表面形貌的觀察。光學顯微鏡是利用一個高發光效率的點光源,經過濾色系統發出一定波長的光作為激發光、激發標本內的熒光物質發射出各種不同顏色的熒光后,再通過物鏡和目鏡的放大進行觀察
4.所用標本制備方式不同。
使用掃描電鏡SEM的原因
掃描電鏡SEM能夠快速的賬務需要測量的物品的測量結果，幫助使用者做出更為準確的判斷。掃描電鏡SEM在使用的過程中，體積比較小，占用空間面積相對減少，能夠更為方便的使用設備，操作和維護也相對更為簡單，減少了再使用的時候不必要的麻煩，同事能夠在更短的時間內完成測量的任務，從而達到測量需求。
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